Новая технология анализа состава сверхчистых материалов
Исследователи Национального института стандартов и технологий США (NIST) разработали специализированное программное обеспечение, которое позволяет выявить наличие мельчайших примесей в составе сверхчистых материалов и сплавов.
Как сообщается в пресс-релизе, предложенный программный пакет анализирует данные, собранные при помощи растрового (сканирующего) электронного микроскопа. Принцип работы такого микроскопа сводится к облучению исследуемого образца пучком электронов и последующей регистрации отраженных и вторичных электронов. Причем анализ рентгеновского излучения, помимо информации о рельефе поверхности, позволяет получить данные о химическом составе образца, поскольку энергия эмитируемых различными участками материала электронов различна. Правда, из-за сложности интерпретации данных электронного микроскопа, как правило, определяются лишь основные компоненты сплава.
На изображении красный цвет соответствует чистому никелю, синий - чистому алюминию, смешанный цвет - сплаву никеля и алюминия, зеленая точка - вкраплению хрома.
Американские ученые нашли способ, как сделать такой анализ гораздо более точным. Разработанный программный пакет позволяет определять состав участков образца, соответствующих буквально каждому отсканированному пикселю. Исследователи, в частности, смогли обнаружить крошечное вкрапление хрома в сплаве никеля и алюминия (см. рисунок). Планируется, что в перспективе подобная методика позволит контролировать процесс получения сверхчистых материалов с уникальными свойствами, а также поможет при производстве полупроводниковых микросхем следующего поколения.
Как сообщается в пресс-релизе, предложенный программный пакет анализирует данные, собранные при помощи растрового (сканирующего) электронного микроскопа. Принцип работы такого микроскопа сводится к облучению исследуемого образца пучком электронов и последующей регистрации отраженных и вторичных электронов. Причем анализ рентгеновского излучения, помимо информации о рельефе поверхности, позволяет получить данные о химическом составе образца, поскольку энергия эмитируемых различными участками материала электронов различна. Правда, из-за сложности интерпретации данных электронного микроскопа, как правило, определяются лишь основные компоненты сплава.
На изображении красный цвет соответствует чистому никелю, синий - чистому алюминию, смешанный цвет - сплаву никеля и алюминия, зеленая точка - вкраплению хрома.
Американские ученые нашли способ, как сделать такой анализ гораздо более точным. Разработанный программный пакет позволяет определять состав участков образца, соответствующих буквально каждому отсканированному пикселю. Исследователи, в частности, смогли обнаружить крошечное вкрапление хрома в сплаве никеля и алюминия (см. рисунок). Планируется, что в перспективе подобная методика позволит контролировать процесс получения сверхчистых материалов с уникальными свойствами, а также поможет при производстве полупроводниковых микросхем следующего поколения.
Ещё новости по теме:
18:20