Создана технология сканирования оптических решеток
Физики из Швейцарии и Великобритании разработали новую технологию, позволяющую проводить прямые измерения свойств отдельных атомов в оптической решетке. Ученые утверждают, что эта технология позволит устанавливать наличие атомов в определенных ячейках оптической решетки, а также определять их магнитные свойства.
В настоящее время ученые могут успешно измерять коллективные свойства атомов в оптической решетке. Но при исследовании вещества, находящегося в оптической решетке в различных фазах, например, сверхпроводящей и магнитной, возникает необходимость изучения свойств отдельных атомов.
Д-р Коринна Коллат (Corinna Kollath) и ее коллеги из университета Женевы и Кембриджского университета разработали технологию, позволяющую сканировать оптическую решетку с пространственным разрешением около 20 нм. Для этого над решеткой помещается частица, ион, удерживаемый сфокусированными радиоволнами с помощью конфигурации из четырех электродов.
Для проведения измерений ион помещается в оптическую решетку, где под действием лазерного импульса кратковременно связывается с находящимся там атомом, образуя новую молекулу. Свойства этой молекулы могут быть определены либо по изменению частоты колебаний иона в ловушке, либо по изменению спектра рассеянного излучения при присоединении иона к атому, сообщает PhysicsWeb.
Полученная информация может использоваться для определения плотности атомов на отдельных участках оптической решетки, а также в некоторых случаях и спиновой плотности. Эта технология может также применяться для создания небольших локальных возмущений оптической решетки, которые, по мнению д-ра Коллат, могут оказаться полезными при исследовании сверхпроводящей фазы вещества.
В настоящее время ученые работают над созданием экспериментальной установки для сканирования оптических решеток на основе разработанной ими технологии.
В настоящее время ученые могут успешно измерять коллективные свойства атомов в оптической решетке. Но при исследовании вещества, находящегося в оптической решетке в различных фазах, например, сверхпроводящей и магнитной, возникает необходимость изучения свойств отдельных атомов.
Д-р Коринна Коллат (Corinna Kollath) и ее коллеги из университета Женевы и Кембриджского университета разработали технологию, позволяющую сканировать оптическую решетку с пространственным разрешением около 20 нм. Для этого над решеткой помещается частица, ион, удерживаемый сфокусированными радиоволнами с помощью конфигурации из четырех электродов.
Для проведения измерений ион помещается в оптическую решетку, где под действием лазерного импульса кратковременно связывается с находящимся там атомом, образуя новую молекулу. Свойства этой молекулы могут быть определены либо по изменению частоты колебаний иона в ловушке, либо по изменению спектра рассеянного излучения при присоединении иона к атому, сообщает PhysicsWeb.
Полученная информация может использоваться для определения плотности атомов на отдельных участках оптической решетки, а также в некоторых случаях и спиновой плотности. Эта технология может также применяться для создания небольших локальных возмущений оптической решетки, которые, по мнению д-ра Коллат, могут оказаться полезными при исследовании сверхпроводящей фазы вещества.
В настоящее время ученые работают над созданием экспериментальной установки для сканирования оптических решеток на основе разработанной ими технологии.
Ещё новости по теме:
18:20