NEC: ваш КПК проработает в 10 раз дольше
NEC: ваш КПК проработает в 10 раз дольше
Два исследовательских подразделения корпорации NEC разрабатывают технологию, которая существенно снизит энергопотребление в мобильных устройствах. Так, микросхемы, выполненные по техническому процессу на 180- и 130-нм, потребляют в выключенном состоянии энергии много меньше, чем в активном состоянии устройства.
Потребление энергии в выключенном состоянии растёт, из-за утечек тока, что связано с усложнением технического процесса: например, у 65-нм микросхем количество потребляемой энергии в выключенном состоянии даже превышает количество потребляемой энергии во включенном состоянии.
Новая технология должна уменьшить энергопотребление, и направлена на микросхемы, выполняемые по 65- и 45-нм техническим процессам. По словам представителей компании, мобильные устройства смогут проработать в 10 раз дольше. Для предотвращения утечек тока, компания применяет высокоэффективный плёночный изолятор и конфигурацию "body-bias".
NEC представила свои первые результаты: утечки для образцов NFET и PFET составили 1.4 и 0.3 пкА. Новая технология направлена на мобильные устройства - ведь именно там критично большее время автономной работы. Если у NEC всё получится, то нас ожидает светлое будущее. Тем более, что появление совместимых с топливными элементами устройств ожидается ещё не скоро.
www.3DNews.ru
Два исследовательских подразделения корпорации NEC разрабатывают технологию, которая существенно снизит энергопотребление в мобильных устройствах. Так, микросхемы, выполненные по техническому процессу на 180- и 130-нм, потребляют в выключенном состоянии энергии много меньше, чем в активном состоянии устройства.
Потребление энергии в выключенном состоянии растёт, из-за утечек тока, что связано с усложнением технического процесса: например, у 65-нм микросхем количество потребляемой энергии в выключенном состоянии даже превышает количество потребляемой энергии во включенном состоянии.
Новая технология должна уменьшить энергопотребление, и направлена на микросхемы, выполняемые по 65- и 45-нм техническим процессам. По словам представителей компании, мобильные устройства смогут проработать в 10 раз дольше. Для предотвращения утечек тока, компания применяет высокоэффективный плёночный изолятор и конфигурацию "body-bias".
NEC представила свои первые результаты: утечки для образцов NFET и PFET составили 1.4 и 0.3 пкА. Новая технология направлена на мобильные устройства - ведь именно там критично большее время автономной работы. Если у NEC всё получится, то нас ожидает светлое будущее. Тем более, что появление совместимых с топливными элементами устройств ожидается ещё не скоро.
www.3DNews.ru
Ещё новости по теме:
18:20